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首页-产品系统--反射膜厚仪-SR-i在线膜厚监测系统

在线膜厚监测系统

简要描述:薄膜厚度测试,在线膜厚监测系统采用微纳米薄膜光学测量创新技术,快速、连续监测工业产线上各式薄膜的膜厚以及光学常数,快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息。

产品型号:SR-i  更新时间:2023-05-15  浏览次数:460

  • 厂家实力

    Manufacturer Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 质量保障

    Quality Assurance

详细介绍

一、概述

SR-i 在线膜厚监测装备采用行业*先微纳米薄膜光学测量创新技术,快速、连续监测工业产线上各式薄膜的膜厚以及光学常数,快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息。

SR-i在线膜厚监测系统介绍1.png

二、产品特点

反射膜厚测头与电控系统结构示意图

SR-i在线膜厚监测系统介绍2.png

SR-i在线膜厚监测系统支持编辑测量路径,连续监测并导出数据图表

SR-i在线膜厚监测系统介绍3.png

可在线模块化定制,结构紧凑、布点灵活、集成各式在线设备中


三、产品应用

SR-i在线膜厚监测系统广泛应用于工业产线级片对片,卷对卷薄膜膜厚连续在线自动化监测。

SR-i 膜厚测量头技术规格:

 

SR-i在线膜厚监测系统介绍6.png

 

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