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薄膜厚度测试仪可测量微米级薄膜厚度

更新时间:2023-05-26      点击次数:302
  薄膜厚度测试仪由光源、分束器、样品台、检测器、计算机等组成。光源发出一束光经过分束器分成两束,一束照射在样品表面并反射回来,另一束则不经过样品直接到达检测器。检测器会收集这两束光的信号,并计算它们之间的相位差,从而得出薄膜厚度。
 
  在现代工业生产中,各种材料和产品都需要涂覆一层薄膜来保护、改善或增强其性能。而薄膜的厚度是影响其功能和质量的重要因素之一,因此准确测量薄膜厚度对于产品质量控制和研发过程至关重要。而薄膜厚度测试仪就是用于测量薄膜厚度的专业工具。
 
  它可以测量各种薄膜(如金属、非金属、透明、不透明等)的厚度,并且能够在微米级别准确测量。它的原理基于光学干涉法,即通过测量反射和透射光的相位差来计算出薄膜厚度。这种方法不需要触碰样品表面,不会对样品造成破坏,同时具有高精度和高速度的优点。
 
  有很多应用,例如在电子、光学、航空航天、医学等领域中,都需要准确测量薄膜厚度。在半导体制造中,可以帮助工程师监控晶圆涂覆过程中的稳定性和均匀性,保证芯片质量。在医学领域中,可以用于检测眼镜、隐形眼镜等视力辅助产品的膜层厚度,确保其符合标准。
 
  总之,薄膜厚度测试仪是测量微米级薄膜厚度的仪器,在工业生产和科研领域中扮演着重要角色。它具有高精度、高速度、不损伤样品等优点,可广泛应用于各个领域,帮助人们更好地掌握薄膜涂覆过程并提高产品质量。
 

薄膜厚度测试

 

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