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光谱椭偏仪在薄膜质量控制中的创新应用
光谱椭偏仪在薄膜质量控制中的创新应用

光谱椭偏仪(SE)是一种高精度的光学测量仪器,广泛应用于薄膜材料的表征与质量控制。通过测量反射光的偏振变化,光谱椭偏仪能够提供薄膜的厚度、折射率、消光系数等重要参数,进而评估薄膜的光学性质、表面质量以及结构特征。近年来,随着薄膜技术的进步,椭偏仪在薄膜质量控制中的应用取得了显著的...

2024 11-22
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