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光学膜厚传感器的测量原理与核心技术
光学膜厚传感器的测量原理与核心技术

光学膜厚传感器凭借其非接触、高精度、快速、可在线等优势,已成为现代工业和科研中测量薄膜厚度的技术。其核心在于利用光与物质相互作用产生的物理现象来“透视”薄膜的结构。一、核心测量原理当一束光照射到薄膜表面时,会发生反射、折射、干涉和偏振等多种光学现象。光学膜厚传感器正是通过精确探测...

2025 8-21
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