在半导体工业中，薄膜技术广泛应用于集成电路、光电器件以及传感器等领域。薄膜的厚度是影响器件性能和可靠性的关键因素之一，因此，精准的薄膜厚度测量至关重要。薄膜厚度测量仪器作为半导体制造过程中的工具，发挥着重要作用。一、薄膜厚度的测量方法薄膜厚度的测量方法主要有几种，其中常见的包括光学干涉法、X射线反射法、纳米压痕法和原子力显微镜（AFM）法等。这些方法各有优缺点，通常根据实际需求和膜层材料的特性来选择合适的测量方法。1.光学干涉法：利用光在薄膜界面发生干涉现象来测量薄膜厚度。该...

2025年3月11-13日，慕尼黑上海光博会在上海新国际博览中心圆满收官。本届展会为业界呈现了一场高层次的科技盛宴。同时，本届展会从展示范围的广泛度、光电产品的丰富度、趋势传递的新颖度、交流合作的深入度等方面充分展现了全球化浪潮下，光电行业正通过技术创新、国际合作、产业链整合等方式得到快速发展的态势，赢得了行业企业和合作伙伴的高度认可和赞誉。精彩盛况展会风采展会期间人头攒动，颐光科技作为光学薄膜及纳米结构测量解决方案提供商，本次展会携核心技术产品光谱椭偏仪、反射膜厚仪及光学膜...

慕尼黑上海光博会将于2025年3月11-13日在上海新国际博览中心盛大召开。2025年正值慕尼黑上海光博会20周年，作为亚洲激光、光学、光电行业的年度盛会，本届展会以“躬耕不辍，智启新程”为主题，超过1400家展商将齐聚申城，共同探索光电产业的未来发展方向。展会邀请函颐光科技将携核心技术产品和解决方案参展，我们诚挚邀请各位新老朋友莅临颐光展台，希望通过此次机会与业内同仁、专家们共同交流探讨、共商合作、互利发展。展馆平面图颐光科技展位：E7馆7472产品介绍关于我们武汉颐光科技...

在材料科学与半导体领域不断探索创新的征程中，椭圆偏光仪凭借其光学测量原理，正发挥着不可替代的关键作用，为这些领域带来诸多创新应用。1、在材料科学领域，椭圆偏光仪成为研究材料微观结构与光学性质的得力助手。对于新型纳米材料，它能精确测量材料的厚度、折射率等参数。比如在二维纳米材料研究中，通过偏光仪可以无损且高精度地确定石墨烯等材料的层数。由于不同层数的石墨烯光学性质存在细微差异，偏光仪能够敏锐捕捉这些变化，为材料的制备与性能优化提供关键数据支持。2、在材料表面和界面研究方面，偏光...

红外椭偏仪是一种高度精密的光学分析仪器，主要功能是在红外光谱范围内对材料进行无损表征。它通过测量材料对红外光的反射或透射过程中偏振状态的变化，从而推断出样品的诸多物理属性，如介电常数、光学性质、薄膜厚度等。作为一种先进的光学测量工具，红外椭偏仪能够以非破坏性的方式获取材料的多种物理性质。具体而言，它可以精确测量如下几类关键物理量：1、光学常数：包括复折射率（实部n与虚部k）、吸收系数α。这些参数对于理解和预测材料的电磁行为至关重要，如色散关系、反射率、透射率等。2、薄膜厚度：...

光谱椭偏仪（SE）是一种高精度的光学测量仪器，广泛应用于薄膜材料的表征与质量控制。通过测量反射光的偏振变化，光谱椭偏仪能够提供薄膜的厚度、折射率、消光系数等重要参数，进而评估薄膜的光学性质、表面质量以及结构特征。近年来，随着薄膜技术的进步，椭偏仪在薄膜质量控制中的应用取得了显著的创新性进展。1、薄膜厚度与光学常数的精准测量椭偏仪常见的应用是薄膜厚度和光学常数的测量。在薄膜的生产过程中，厚度控制对于其性能至关重要。例如，在半导体制造中，薄膜的厚度直接影响器件的电学性能和可靠性。...