产品系统NEWS CENTER
首页-产品系统-FTIR系列产品-
产品中心
FTIR系列产品
相关文章
IRE-200光学薄膜测厚仪是一款超高精度的外延层厚度测量设备,利用红外光谱经傅里叶变换进行快速分析,主要应用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各类外延片的外延层厚度测量。
更新日期:2023-05-22
型号:
厂商性质:生产厂家
027-87001728
关注我们微信账号
扫一扫手机浏览
Copyright©2023 武汉颐光科技有限公司 版权所有 备案号:鄂ICP备17018907号-2 sitemap.xml 技术支持:化工仪器网 管理登陆
TEL:027-87001728