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FTIR系列
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光学薄膜测厚仪,IRE-200是一款超高精度的外延层厚度测量设备,利用红外光谱经傅里叶变换进行快速分析,主要应用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各类外延片的外延层厚度测量。
更新日期:2024-07-04
型号:
厂商性质:生产厂家
027-87001728
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