反射膜厚仪在使用时应关注哪些方面？

特点：

非破坏性测量
无需接触或损伤样品，可对成品、半成品进行多次复测，避免样品损耗。

高精度与宽量程

精度：常规型号 ±2nm~±5nm；

量程：覆盖 1nm至数百微米，部分型号支持多层膜测量。

快速高效
单次测量时间短，简易款约 0.1~1 秒，分光法约 3~5 秒，可满足生产线 “在线检测” 需求。

操作便捷
内置常见材料的折射率数据库，无需手动输入参数；部分型号支持 “一键测量”，无需专业光学知识即可操作。

环境适应性强
工业级型号具备防尘、防震设计，可在车间环境稳定工作；实验室型号支持恒温控制（±0.5℃），进一步提升数据稳定性。

反射膜厚仪的使用注意事项：

样品预处理：确保样品表面清洁（无灰尘、油污），否则会影响反射光信号，导致测量误差；

环境控制：实验室高精度测量需避免强光直射、气流扰动，工业场景需远离振动源；

定期校准：使用标准膜厚样品每月校准一次，确保仪器精度；

参数匹配：测量前需确认薄膜折射率、基底类型是否与仪器设置一致。