随着半导体技术的快速发展，集成电路（IC）的制造工艺变得越来越精密，尤其是在薄膜沉积和刻蚀等工艺中，厚度控制显得尤为重要。红外干涉测厚仪作为一种高精度的非接触式测量工具，在半导体制造过程中得到了广泛应用。其原理基于红外干涉现象，通过反射光波与薄膜表面之间的相位差来实现对薄膜厚度的测量。以下将分析红外干涉测厚仪在半导体制造中的应用及优势。1、高精度厚度测量在半导体制造中，薄膜的厚度对器件的性能具有直接影响。例如，在光刻、化学气相沉积（CVD）、原子层沉积（ALD）等过程中，薄膜...

颐光科技为您精选了多款光谱椭偏仪、反射膜厚仪自研产品。光谱椭偏仪ME-L穆勒矩阵椭偏仪ME-L是一款全自动高精度穆勒矩阵光谱椭偏仪，拥有行业前沿的光路调制技术，采用半导体制冷式探测器，具有超高灵敏度和极快的信号采集速度，同时也包括消色差补偿器、双旋转补偿器同步控制、穆勒矩阵数据分析等。ME-Mapping光谱椭偏仪ME-Mapping光谱椭偏仪可以满足大尺寸晶圆的多点自动化扫描测量需求，自定义绘制测量路径，支持实时显示膜厚分布以及数据汇总。设备采用双旋转补偿器调制技术，直接测...

椭偏仪在AR衍射光波导行业中的应用AR衍射光波导是什么？目前，市面上较成熟的AR光学显示方案主要有棱镜方案、Birdbath方案、自由曲面方案和光波导方案等。各方案都有不同维度上的侧重，但真正满足AR产品需求的光学方案其实并不多。AR光学显示方案特点缺点棱镜方案可实现全彩显示，技术成熟，价格便宜FOV不够大，AR体验感不强，无法做成眼镜形态自由曲面方案成像色彩饱和、视场角大、功耗较低，体积适中比普通眼镜更厚、重，外界透光率较低、图像容易畸变Birdbath方案结构简单、门槛低...

目录01平板显示行业测量介绍02平板显示行业的量测意义03平板显示行业的测量解决方案01平板显示行业测量介绍平板显示器件于20世纪60年代出现，主要包括液晶显示器、发光二极管、等离子显示板、电致发光显示器等。目前液晶显示LCD（LiquidCrystalDisplay）与有机电致发光显示OLED（OrganicLight-EmittingDiode）为平板显示行业主要显示技术，占据行业绝大部分产值。检测是面板生产过程的必要环节。面板显示检测的作用是在面板显示器件的生产过程中进...

教学椭偏仪是一种精密的光学测量仪器，正确的维护保养对于延长其使用寿命、确保测量精度至关重要。以下是一些关键的维护保养方法。1、日常清洁保持仪器的清洁是维护的基础。每次使用后，应使用干净、柔软的镜头纸或棉签轻轻擦拭仪器的光学元件表面，如透镜、反射镜等，去除可能沾染的灰尘、指纹等污渍。注意擦拭时要沿着同一方向，避免来回摩擦造成划伤。对于仪器外壳和其他非光学部件，可用干布擦拭，清除表面的灰尘和杂物。2、防潮防尘教学椭偏仪对环境湿度和灰尘较为敏感。应将仪器放置在干燥、通风良好的环境中...

椭偏仪，作为一种精密光学测量仪器，用于分析光的偏振状态及其与物质相互作用的性质，对半导体、液晶、薄膜材料等的厚度、折射率、吸收系数等参数有着精确的测量能力，在科学研究和工业生产中扮演着重要角色。近年来，随着国内科研技术的发展，国产椭偏仪在性能和技术上取得了长足进步，逐渐成为国内外市场的有力竞争者。国产椭偏仪的测量误差受到多种因素的影响，包括仪器本身的设计精度、操作条件、被测样品特性等。一般而言，现代国产高档椭偏仪的误差范围可以从几个百分点至万分之几，具体数值依据型号和应用场合...