膜厚测试仪主要用于测量薄膜或涂层材料的厚度。根据工作原理的不同，可以分为几种类型，常见的有电涡流法、磁性法、X射线荧光法等。这些测试方法依赖于不同的物理原理来进行膜层厚度的测量。电涡流法通常用于非铁金属表面，而磁性法则专门应用于铁磁性材料的膜层测量。无论是哪种类型的膜厚测试仪，都需要一些关键的耗材和附件来保证测量的精度和仪器的长期稳定运行。下面将详细介绍常见的耗材和附件。主要耗材：1.探头与传感器探头和传感器是直接与待测物体表面接触的核心部件。探头根据不同的测量方式，通常分为...

教学椭偏仪作为一种重要的光学测量工具，广泛应用于研究、材料分析以及工业测试领域。在教学中，不仅能帮助学生直观理解光学原理，还能加深学生对光学薄膜、表面特性等物理现象的认识。针对教学需求设计的椭偏仪，通常具备一定的特殊设计特点，旨在简化操作、提高实用性和适应性，帮助学生掌握科学实验方法与数据分析技能。教学椭偏仪的设计不同于研究型和工业型椭偏仪，通常更注重易用性和教育功能。其设计理念主要体现在以下几个方面：1.简单易操作需要尽量简化操作流程，减少过多复杂的设置，使学生能够在较短的...

随着半导体技术的快速发展，集成电路（IC）的制造工艺变得越来越精密，尤其是在薄膜沉积和刻蚀等工艺中，厚度控制显得尤为重要。红外干涉测厚仪作为一种高精度的非接触式测量工具，在半导体制造过程中得到了广泛应用。其原理基于红外干涉现象，通过反射光波与薄膜表面之间的相位差来实现对薄膜厚度的测量。以下将分析红外干涉测厚仪在半导体制造中的应用及优势。1、高精度厚度测量在半导体制造中，薄膜的厚度对器件的性能具有直接影响。例如，在光刻、化学气相沉积（CVD）、原子层沉积（ALD）等过程中，薄膜...

颐光科技为您精选了多款光谱椭偏仪、反射膜厚仪自研产品。光谱椭偏仪ME-L穆勒矩阵椭偏仪ME-L是一款全自动高精度穆勒矩阵光谱椭偏仪，拥有行业前沿的光路调制技术，采用半导体制冷式探测器，具有超高灵敏度和极快的信号采集速度，同时也包括消色差补偿器、双旋转补偿器同步控制、穆勒矩阵数据分析等。ME-Mapping光谱椭偏仪ME-Mapping光谱椭偏仪可以满足大尺寸晶圆的多点自动化扫描测量需求，自定义绘制测量路径，支持实时显示膜厚分布以及数据汇总。设备采用双旋转补偿器调制技术，直接测...

椭偏仪在AR衍射光波导行业中的应用AR衍射光波导是什么？目前，市面上较成熟的AR光学显示方案主要有棱镜方案、Birdbath方案、自由曲面方案和光波导方案等。各方案都有不同维度上的侧重，但真正满足AR产品需求的光学方案其实并不多。AR光学显示方案特点缺点棱镜方案可实现全彩显示，技术成熟，价格便宜FOV不够大，AR体验感不强，无法做成眼镜形态自由曲面方案成像色彩饱和、视场角大、功耗较低，体积适中比普通眼镜更厚、重，外界透光率较低、图像容易畸变Birdbath方案结构简单、门槛低...

目录01平板显示行业测量介绍02平板显示行业的量测意义03平板显示行业的测量解决方案01平板显示行业测量介绍平板显示器件于20世纪60年代出现，主要包括液晶显示器、发光二极管、等离子显示板、电致发光显示器等。目前液晶显示LCD（LiquidCrystalDisplay）与有机电致发光显示OLED（OrganicLight-EmittingDiode）为平板显示行业主要显示技术，占据行业绝大部分产值。检测是面板生产过程的必要环节。面板显示检测的作用是在面板显示器件的生产过程中进...