产品系统NEWS CENTER

在发展中求生存,不断完善,以良好信誉和科学的管理促进企业迅速发展
产品系统

首页-产品系统-椭偏仪系列-

相关文章

RELATED ARTICLES
ME-L 穆勒矩阵光谱椭偏仪

ME-L 是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪,凝聚了颐光科研团队在椭偏技术多年的研发投入,其采用行业前沿的创新技术,包括消色差补偿器、双旋转补偿器同步控制、穆勒矩阵数据分析等。 可应用于各种各向同性/异性薄膜材料膜厚、光学纳米光栅常数以及一维/二维纳米光栅材料结构的表征分析。 全自动变角、对焦技术,一键快速测量; 向导交互式人机界面,便捷的软件操作体验; 丰富的材料数据库与算法模型库,强大的

更新日期:2024-04-03

型号:

厂商性质:生产厂家

ME-Mapping光谱椭偏仪

Mapping系列光谱椭偏仪是全自动高精度Mapping绘制化测量光谱椭偏仪,配置全自动Mapping运动机构,通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,快速实现薄膜全基片的膜厚及光学参数自定义绘制化测量表征。

更新日期:2024-04-03

型号:

厂商性质:生产厂家

SE-VM光谱椭偏仪

SE-VM是一款高精度快速测量光谱椭偏仪,可实现科研/企业级高精度快速光谱椭偏测量,支持多角度、微光斑、可视化调平系统等高兼容性灵活配置,支持多功能模块定制化设计。

更新日期:2024-04-03

型号:

厂商性质:生产厂家

SE-VE光谱椭偏仪

SE-VE是一款高性价比快速测量光谱椭偏仪,紧凑集成化设计,操作简便,一键快速测量和向导交互式人机界面,具有丰富的材料数据库和算法模型库、强大的数据分析能力。

更新日期:2024-04-03

型号:

厂商性质:生产厂家

SE-VF 光谱椭偏仪

针对微区图形结构测量定制的专用型光谱椭偏仪

更新日期:2024-04-03

型号:

厂商性质:生产厂家

椭偏在线监测装备

针对LCD、OLED等新型平板显示量产中所涉及的PI配向膜、光刻胶薄膜、ITO薄膜、有机发光薄膜、有机/无机封装薄膜等质量控制需要,专门设计的在线薄膜测量系统。可适用于空气、N2、真空等环境条件,自动实现玻璃基板上各种膜系结构厚度分布、光学常数分布的全片快速扫描测量。

更新日期:2024-04-03

型号:

厂商性质:生产厂家

SE-i 光谱椭偏仪

针对有机/无机镀膜工艺研究的需要开发的原位薄膜在线监测中的定制化开发,可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,椭偏测量头快速实现光学薄膜原位表征分析

更新日期:2024-04-03

型号:

厂商性质:生产厂家

椭偏检测机台

椭偏检测机台通过整体高度集成技术,实现不同椭偏测量模块在线/离线式整体椭偏测量解决方案。

更新日期:2024-04-03

型号:

厂商性质:生产厂家

共 9 条记录,当前 1 / 2 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 

关注我们
微信账号

扫一扫
手机浏览

Copyright©2024  武汉颐光科技有限公司  版权所有    备案号:鄂ICP备17018907号-2    sitemap.xml    技术支持:化工仪器网    管理登陆