ME-L 是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪,凝聚了颐光科研团队在椭偏技术多年的研发投入,其采用行业前沿的创新技术,包括消色差补偿器、双旋转补偿器同步控制、穆勒矩阵数据分析等。 可应用于各种各向同性/异性薄膜材料膜厚、光学纳米光栅常数以及一维/二维纳米光栅材料结构的表征分析。 全自动变角、对焦技术,一键快速测量; 向导交互式人机界面,便捷的软件操作体验; 丰富的材料数据库与算法模型库,强大的
更新日期:2024-04-03
型号:
厂商性质:生产厂家
教学椭偏仪,Mapping系列光谱椭偏仪是全自动高精度Mapping绘制化测量光谱椭偏仪,配置全自动Mapping运动机构,通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,快速实现薄膜全基片的膜厚及光学参数自定义绘制化测量表征。
更新日期:2024-07-04
型号:
厂商性质:生产厂家
椭偏仪厂家的SE-VM光谱椭偏仪是一款高精度快速测量光谱椭偏仪,可实现科研/企业级高精度快速光谱椭偏测量,支持多角度、微光斑、可视化调平系统等高兼容性灵活配置,支持多功能模块定制化设计。
更新日期:2024-07-04
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厂商性质:生产厂家
国产椭偏仪,SE-VE光谱椭偏仪是一款高性价比快速测量光谱椭偏仪,紧凑集成化设计,操作简便,一键快速测量和向导交互式人机界面,具有丰富的材料数据库和算法模型库、强大的数据分析能力。
更新日期:2024-07-04
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厂商性质:生产厂家
红外椭偏仪,SE-i光谱椭偏仪针对有机/无机镀膜工艺研究的需要开发的原位薄膜在线监测中的定制化开发,可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,椭偏测量头快速实现光学薄膜原位表征分析
更新日期:2024-07-04
型号:
厂商性质:生产厂家