ME-L 是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪，凝聚了颐光科研团队在椭偏技术多年的研发投入，其采用行业前沿的创新技术，包括消色差补偿器、双旋转补偿器同步控制、穆勒矩阵数据分析等。 可应用于各种各向同性/异性薄膜材料膜厚、光学纳米光栅常数以及一维/二维纳米光栅材料结构的表征分析。 全自动变角、对焦技术，一键快速测量； 向导交互式人机界面，便捷的软件操作体验； 丰富的材料数据库与算法模型库，强大的

教学椭偏仪,Mapping系列光谱椭偏仪是全自动高精度Mapping绘制化测量光谱椭偏仪，配置全自动Mapping运动机构，通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现薄膜全基片的膜厚及光学参数自定义绘制化测量表征。

椭偏仪厂家的SE-VM光谱椭偏仪是一款高精度快速测量光谱椭偏仪,可实现科研/企业级高精度快速光谱椭偏测量，支持多角度、微光斑、可视化调平系统等高兼容性灵活配置，支持多功能模块定制化设计。

国产椭偏仪,SE-VE光谱椭偏仪是一款高性价比快速测量光谱椭偏仪,紧凑集成化设计，操作简便，一键快速测量和向导交互式人机界面，具有丰富的材料数据库和算法模型库、强大的数据分析能力。

针对微区图形结构测量定制的专用型光谱椭偏仪

椭圆偏光仪,椭偏在线监测装备针对LCD、OLED等新型平板显示量产中所涉及的PI配向膜、光刻胶薄膜、ITO薄膜、有机发光薄膜、有机/无机封装薄膜等质量控制需要，专门设计的在线薄膜测量系统。可适用于空气、N2、真空等环境条件，自动实现玻璃基板上各种膜系结构厚度分布、光学常数分布的全片快速扫描测量。

红外椭偏仪,SE-i光谱椭偏仪针对有机/无机镀膜工艺研究的需要开发的原位薄膜在线监测中的定制化开发，可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，椭偏测量头快速实现光学薄膜原位表征分析

穆勒矩阵光谱椭偏仪,椭偏检测机台通过整体高度集成技术，实现不同椭偏测量模块在线/离线式整体椭偏测量解决方案。