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SE-VF 光谱椭偏仪

简要描述:针对微区图形结构测量定制的专用型光谱椭偏仪

产品型号:  更新时间:2024-04-03  浏览次数:1068

  • 厂家实力

    Manufacturer Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 质量保障

    Quality Assurance

详细介绍

一、概述

SE-m 是一款针对半导体行业定制的微区图形结构测量的专用型光谱椭偏仪,其采用  超小微光斑探测测量技术 定制超快测量速度等技术。可应用透明各类衬底上的减反膜、导电膜等薄膜的n/k/d测量,适用于微区图形的各种光学参数解析。


二、特色功能

■ 可定制光斑尺寸,最小可达30um;

■ 超快测量,单次测量时间小于0.5秒 ;

■ 系列配置灵活,支持功能定制设计;

■ 结构紧凑,更适应在线集成测量

三、测量实例

捕获.JPG微区图形结构测量

捕获.JPG

四、应用场景 

应用于光学常数测量,适用于各类光学薄膜等镀膜检测应用。

微信截图_20180930104450.png






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