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首页-产品系统--反射膜厚仪-RT-V反射透射测量仪

反射透射测量仪

简要描述:薄膜折射率测试,反射透射测量仪采用进口氘卤二合一光源,结合高性能分光光谱仪,可测量获得紫外到近红外光谱范围样品的反射率和穿透率光谱,并进一步计算获得样品色坐标,以及薄膜厚度、光学常数等信息。

产品型号:RT-V  更新时间:2023-05-15  浏览次数:842

  • 厂家实力

    Manufacturer Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 质量保障

    Quality Assurance

详细介绍

一、概述

RT-V系列反射透射测量仪,采用进口氘卤二合一光源,结合高性能分光光谱仪,可测量获得紫外到近红外光谱范围样品的反射率和穿透率光谱,并进一步计算获得样品色坐标,以及薄膜厚度、光学常数等信息。

高性价比穿透率、反射率测量解决方案

色坐标计算和薄膜特征解析

模块化定制,支持在线集成应用

二、产品特点

采用高性能进口氘卤二合一光源,光谱范围覆盖可见光到近红外范围;

RT-V反射透射测量仪1.png

采用高性能分光光谱仪,可量测透明、低对比度、高反射率样品;

RT-V反射透射测量仪2.png

 

支持全光谱范围反射率高精度量测,基于薄膜层上下界面反射光干涉原理,轻松解析单层至多层薄膜特征;

支持紫外到近红外光谱范围内的穿透率高精度、高稳定性量测,并支持直接计算获得对应色坐标;

RT-V反射透射测量仪4.png

 

三、测量实例

RT-V反射透射测量仪5.png

 

四、产品应用

       RT系列反射透射测量仪,可实现各种透明、低对比度、高反射率样品反射率和穿透率光谱快速精准测量,并进一步计算获得样品色坐标、薄膜样品厚度及光学常数。广泛应用于各种滤光片、滤镜、镜头、玻璃、染色液、薄膜的测量。

 

 

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