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一、产品特点
光学薄膜测量解决方案;
非接触、非破坏测量;
核心算法支持薄膜到厚膜、单层到多层薄膜分析;
是膜厚重复性测量精度:0.02nm
配置灵活、支持定制化
反射膜厚仪采用高强度卤素灯光源,光谱覆盖深紫外到近红外范围;
采用光机电高度整合一体化设计,体积小,操作简便;
基于薄膜层上界面与下界面的反射光相干涉原理,轻松解析单层薄膜到多层;
配置强大核心分析算法:FFT分析厚膜、曲线拟合分析法分析薄膜的物理参数信息。
二、产品应用
反射膜厚仪广泛应用于各种介质保护膜、有机薄膜、无机薄膜、金属膜、涂层等薄膜测量。
三、技术参数
产品咨询
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型号:SR-C
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