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SR-M显微膜厚仪

简要描述:SR-M 针对特定微小区域,可提供微米级的聚焦光斑,同时利用显微物镜定位测量点,从而获取精准位置的厚度表征结果。

产品型号:  更新时间:2024-04-03  浏览次数:1177

  • 厂家实力

    Manufacturer Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 质量保障

    Quality Assurance

详细介绍

一、概述

       SR-M 针对特定微小区域,可提供微米级的聚焦光斑,同时利用显微物镜定位测量点,从而获取精准位置的厚度表征结果。

 光斑大小可进行定制,最小可达到10um;

■ 非接触、非破坏测量;

■ 核心算法支持薄膜到厚膜、单层到多层薄膜分析;

■ 配置灵活、支持定制化


二、产品特点

■ 采用高强度卤素光源,光源稳定性好;

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■ 采用光机电高度整合一体化设计,体积小,操作简便;

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■ 基于薄膜层上界面与下界面的反射光相干涉原理,轻松解析单层薄膜到多层;


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三、产品应用

        显微膜厚仪广泛应用于各种介质保护膜、有机薄膜、无机薄膜、金属膜、涂层等薄膜测量


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技术参数

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