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SE-VM光谱椭偏仪

简要描述:SE-VM是一款高精度快速测量光谱椭偏仪,可实现科研/企业级高精度快速光谱椭偏测量,支持多角度、微光斑、可视化调平系统等高兼容性灵活配置,支持多功能模块定制化设计。

产品型号:  更新时间:2024-04-03  浏览次数:1404

  • 厂家实力

    Manufacturer Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 质量保障

    Quality Assurance

详细介绍

一、概述

      SE-VM 是一款超高精度快速测量光谱椭偏仪,其采用自主研发的椭偏创新技术,具备 1 双旋转补偿器同步控制技术2 透明基底消背反技术 等技术快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析,适用于薄膜材料的快速测量表征。支持多角度,微光斑,可视化调平系统等高兼容性灵活配置,多功能模块定制化设计。

■  高精度椭偏测量解决方案;

 超高精度、快速无损测量;

■  支持多角度、微光斑、可视化调平系统功能模块灵活定制;

■  丰富的数据库和几何结构模型库,保证强大数据分析能力。

二、产品特点

采用高性能进口复合光源,光谱覆盖可见到近红外范围 (380-1000nm),可支持扩展紫外到近红外范围 (193-2500nm);

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■  高精度双旋转补偿器调制、PCrSCrA配置,实现Psi/Delta光谱数据高速采集;

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支持系列配置灵活,可根据不同应用场景支持多功能模块化定制;

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数百种材料数据库、多种算法模型库,涵盖了目前绝大部分的光电材料。

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三、产品应用

SE-VM广泛应用于镀膜工艺控制、tooling校正等测量应用,实现光学薄膜、纳米结构的光学常数和几何特征尺寸快速的表征分析。

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可选配件

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Mapping.png

ME-L0.png

ME-L.png

温控台Mapping扩展模块真空泵透射吸附组件









技术参数

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