产品系统NEWS CENTER

在发展中求生存,不断完善,以良好信誉和科学的管理促进企业迅速发展
产品系统

首页-产品系统-椭偏仪系列-光谱椭偏仪-ME-Mapping光谱椭偏仪

ME-Mapping光谱椭偏仪

简要描述:Mapping系列光谱椭偏仪是全自动高精度Mapping绘制化测量光谱椭偏仪,配置全自动Mapping运动机构,通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,快速实现薄膜全基片的膜厚及光学参数自定义绘制化测量表征。

产品型号:  更新时间:2024-04-03  浏览次数:903

  • 厂家实力

    Manufacturer Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 质量保障

    Quality Assurance

详细介绍

 

一、概述

     ME-Mapping 光谱椭偏仪是一款可定制化Mapping绘制化测量光谱椭偏仪,配置全自动Mapping测量模块,通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,快速实现薄膜全基片膜厚以及光学参数自定义绘制化测量表征和分析。

■ 全基片椭偏绘制化测量解决方案;

■ 支持产品设计以及功能模块定制化,一键绘制测量;

■ 配置Mapping模块,全基片自定义多点定位测量能力;

■ 丰富的数据库和几何结构模型库,保证强大数据分析能力。

二、产品特点

■ 采用氘灯和卤素灯复合光源,光谱覆盖紫外到近红外范围 (193-2500nm);

image.png

■ 高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置,实现Psi/Delta光谱数据高速采集;

捕获.JPG

■ 具备全基片自定义多点自动定位测量能力,提供全面膜厚检测分析报告;

微信截图_20180924222448.png

■ 数百种材料数据库、多种算法模型库,涵盖了目前绝大部分的光电材料。

库.png

三、产品应用

      ME-Mapping广泛应用OLED,LED,光伏,集成电路等工业应用中,实现大尺寸全基片膜厚、光学常数以及膜厚分布快速测量与表征。

111.png

可选配件

ME-L0.png

ME-L.png

真空泵透射吸附组件



技术参数
ME-Maapping.png

产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

相关产品

关注我们
微信账号

扫一扫
手机浏览

Copyright©2024  武汉颐光科技有限公司  版权所有    备案号:鄂ICP备17018907号-2    sitemap.xml    技术支持:化工仪器网    管理登陆