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首页-产品系统--专用型椭偏仪-SE-i红外椭偏仪

红外椭偏仪

简要描述:SE-i红外椭偏仪针对有机/无机镀膜工艺研究的需要开发的原位薄膜在线监测中的定制化开发,可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,椭偏测量头快速实现光学薄膜原位表征分析。

产品型号:SE-i  更新时间:2023-05-15  浏览次数:397

  • 厂家实力

    Manufacturer Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 质量保障

    Quality Assurance

详细介绍

一、概述

SE-Vi 是一款集成式原位光谱椭偏仪,针对有机/无机镀膜工艺研究的需要开发的原位薄膜在线监测中的定制化开发,快速实现光学薄膜原位表征分析。

 

SE-i光谱椭偏仪介绍1.png

 

二、测试案例

 

SE-i光谱椭偏仪介绍2.png

 

成膜工艺监控

 

SE-i光谱椭偏仪介绍3.png

 

膜厚表征

SE-i光谱椭偏仪介绍4.png


三、产品应用

光谱椭偏仪广泛应用于金属薄膜、有机薄膜、无机薄膜的物理/化学气相沉积,ALD沉积等光学薄膜工艺过程中实际原位在线监测并实时反馈测量物性数据。

四、技术参数

 

SE-i光谱椭偏仪介绍5.png

颐光科技注册于武汉东湖国家自主创新示范区,立足光谷,面向,为用户提供光学散射测量仪等系列产品,并提供仪器、软件、服务等综合解决方案。产品广泛应用于集成电路、半导体、光伏太阳能、平板显示、LED照明、存储、生物、医药、化学、电化学、光学镀膜和保护膜、减反膜、光刻材料等众多领域。

 

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