慕尼黑上海光博会将于2025年3月11-13日在上海新国际博览中心盛大召开。2025年正值慕尼黑上海光博会20周年,作为亚洲激光、光学、光电行业的年度盛会,本届展会以“躬耕不辍,智启新程”为主题,超过1400家展商将齐聚申城,共同探索光电产业的未来发展方向。展会邀请函颐光科技将携核心技术产品和解决方案参展,我们诚挚邀请各位新老朋友莅临颐光展台,希望通过此次机会与业内同仁、专家们共同交流探讨、共商合作、互利发展。展馆平面图颐光科技展位:E7馆7472产品介绍关于我们武汉颐光科技...
查看详情在材料科学与半导体领域不断探索创新的征程中,椭圆偏光仪凭借其光学测量原理,正发挥着不可替代的关键作用,为这些领域带来诸多创新应用。1、在材料科学领域,椭圆偏光仪成为研究材料微观结构与光学性质的得力助手。对于新型纳米材料,它能精确测量材料的厚度、折射率等参数。比如在二维纳米材料研究中,通过偏光仪可以无损且高精度地确定石墨烯等材料的层数。由于不同层数的石墨烯光学性质存在细微差异,偏光仪能够敏锐捕捉这些变化,为材料的制备与性能优化提供关键数据支持。2、在材料表面和界面研究方面,偏光...
查看详情红外椭偏仪是一种高度精密的光学分析仪器,主要功能是在红外光谱范围内对材料进行无损表征。它通过测量材料对红外光的反射或透射过程中偏振状态的变化,从而推断出样品的诸多物理属性,如介电常数、光学性质、薄膜厚度等。作为一种先进的光学测量工具,红外椭偏仪能够以非破坏性的方式获取材料的多种物理性质。具体而言,它可以精确测量如下几类关键物理量:1、光学常数:包括复折射率(实部n与虚部k)、吸收系数α。这些参数对于理解和预测材料的电磁行为至关重要,如色散关系、反射率、透射率等。2、薄膜厚度:...
查看详情光谱椭偏仪(SE)是一种高精度的光学测量仪器,广泛应用于薄膜材料的表征与质量控制。通过测量反射光的偏振变化,光谱椭偏仪能够提供薄膜的厚度、折射率、消光系数等重要参数,进而评估薄膜的光学性质、表面质量以及结构特征。近年来,随着薄膜技术的进步,椭偏仪在薄膜质量控制中的应用取得了显著的创新性进展。1、薄膜厚度与光学常数的精准测量椭偏仪常见的应用是薄膜厚度和光学常数的测量。在薄膜的生产过程中,厚度控制对于其性能至关重要。例如,在半导体制造中,薄膜的厚度直接影响器件的电学性能和可靠性。...
查看详情在薄膜制造和涂层工艺中,精确控制薄膜厚度对于产品的质量和性能至关重要。光学膜厚传感器作为一种先进的非接触式测量工具,凭借其高精度、实时反馈和适用范围广的特点,在半导体、显示器、太阳能电池、光学器件等多个高科技领域得到了广泛应用。选择正确的光学膜厚传感器对于确保测量的准确性、效率以及适应具体的工业应用至关重要。以下是几个关键因素,它们会指导您在各种选项中做出合适的选择:1、测量对象特性首先,考虑您的测量目标——即薄膜本身的特点。这包括但不限于:-材料属性:薄膜是由哪种材料制成的...
查看详情在选择薄膜折射率测试仪时,考虑到这种设备在科研、生产和质量控制中起到的关键作用,有几个核心特性是不容忽视的。这些因素将直接影响到测量的准确性、效率和成本效益。下面是一些重要考量点:1、测量范围和精度a.测量范围:不同的薄膜材料可能有不同的折射率范围,选择一个能覆盖目标薄膜折射率范围的薄膜折射率测试仪至关重要。此外,一些高级设备还能同时测量消光系数,这对于非透明或半透明薄膜尤为重要。b.精度:精度是衡量测试仪性能的核心指标。更高的精度意味着更低的标准偏差,这对于需要高准确度的科...
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