带您了解膜厚测试仪！

本公司提供的IRE-200膜厚测试仪是一款超高精度的外延层厚度测量设备，利用红外光谱经傅里叶变换进行快速分析，主要应用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各类外延片的外延层厚度测量。

特点：

单抛/双抛等多种模式选择支持；

自定义mapping功能；

高检测速率：Si标准外延片测量25点≤3min；

高检测精度：≤0.01um。

膜厚测试仪的适用场景：

‌工业涂镀层检测‌：汽车、五金、防腐行业，测量钢铁/铝合金表面的油漆、镀锌、镀铬、阳极氧化膜厚度，保障涂层防护性能达标。

‌半导体与光学行业‌：晶圆光刻胶、SiO₂钝化层、AR抗反射膜等纳米级薄膜的厚度管控，直接决定芯片良率与光学元件性能。

‌新能源与软包装行业‌：锂电池隔膜、铝塑膜、药用复合膜、食品包装薄膜的厚度均匀性检测，保障材料阻隔性与拉伸强度稳定。

科研场景‌：各类新型功能薄膜、二维材料的厚度表征，支撑材料研发与工艺迭代。