金属镀层的厚度是衡量镀层质量的重要指标之一，将会直接影响材料的使用性能，为了准确的评定金属镀层的厚度，就可以使用膜厚测试仪来进行检测。它对样品进行非接触式、无损、高精度测量，可测量反射率、颜色、膜厚等参数。可应用于光伏、半导体材料、高分子材料等薄膜层的厚度测量，在半导体、太阳能、液晶面板和光学行业以及科研所和高校都得到广泛的应用。随着微型计算机多媒体技术的发展和普及，光学薄膜在液晶显示屏，CRT显示器等方面广泛应用。为了提高光学薄膜的生产效率和改善产品质量有必要逐步导入人工智...

华中科技大学联合武汉颐光科技科技有限公司开发的“高精度宽光谱穆勒矩阵椭偏测量关键技术与纳米测量应用”项目荣获湖北省技术发明一等奖。此奖项由省人民政府设立，经省科学技术奖励评审委员会评审、省科学技术奖励委员会审议，湖北省人民政府决定后终授予，旨在深入实施创新驱动发展战略，建设创新强省，奖励为省科技事业进步、经济社会发展作出突出贡献的科学技术人员和组织。穆勒矩阵椭偏仪广泛应用于IC制造、平板显示、光电子器件、光伏太阳能、柔性电子等国家新兴战略产业中的纳米材料、纳米结构与纳米器件的...