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使用光学薄膜测厚仪的基本步骤和注意事项

更新时间:2023-06-07      点击次数:336
  光学薄膜测厚仪是一种用于测量薄膜厚度的仪器,广泛应用于电子、光学、材料等领域。以下是使用该测厚仪的基本步骤和注意事项:
 
  1、准备工作
 
  首先要确认所要测试的样品尺寸,并按照规定的方式进行安装。检查设备是否处于正常工作状态,例如灯光是否亮着、显示屏是否正常显示等。
 
  2、校准仪器
 
  在使用前需要对仪器进行校准以保证测试结果的准确性。具体校准方法可以参考仪器操作手册或者生产厂家提供的说明书。通常需要使用标准样品进行校准。
 
  3、设置参数
 
  根据样品的特点设置相应的参数。主要包括激光功率、测量范围、测试时间等。不同样品的参数设置也会有所不同,需要根据实际情况进行调整。
 
  4、测试样品
 
  将待测样品放置在测量台上,启动测试程序并等待测试结果。在测试过程中需要保持样品的稳定性,避免移动或者震动。
 
  5、分析结果
 
  测试完成后,可以从显示屏上读取测试结果,或者将数据导出到计算机进行进一步处理。根据实际需求可以选择不同的分析方法,例如绘制厚度分布图、计算均值和标准差等。
 
  注意事项:
 
  1、使用前需要对仪器进行校准,以保证测试结果的准确性。
 
  2、在测试过程中要保持样品的稳定性,避免移动或者震动。
 
  3、不同样品的参数设置也会有所不同,需要根据实际情况进行调整。
 
  4、样品表面应该保持干净,避免污物影响测试结果。
 
  5、仪器使用完毕后需要及时清洁并进行保养,以延长使用寿命。
光学薄膜测厚仪

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