反射膜厚仪是一种用于测量反射膜厚度的仪器,其基本原理是通过测量反射光的相位差来计算反射膜的厚度。它在光学材料、光学器件和光学组件制造中具有广泛的应用,可以帮助工程师们更准确地评估和控制产品的光学性能。该仪器采用了光干涉原理,它通过分析光波的振幅和相位差来测量反射膜的厚度。具体来说,它利用光学干涉器产生一组平行光束,将这些光束照射到被测反射膜上,然后测量反射光的光强和相位差。通过这些数据,仪器可以计算出反射膜的厚度。反射膜厚仪具有高精度、高灵敏度和高可靠性等优点。相比于传统的反...
查看详情光谱椭偏仪是一种高精度测量材料光学性质的仪器,能够定量地测量材料的折射率、厚度、表面形态等参数。它的工作原理是探测材料对偏振光的旋转和二次波,进而获得材料的光学常数、薄膜厚度和表面结构等信息。核心部分是光源、光偏振器、光轴调节器、样品台、光学检测装置。其工作流程通常是,光源所发出的偏振光经过光偏振器、光轴调节器,照射到样品表面,测量后的光子通过光学检测装置,转换为电信号,并经过数据处理得到光学参数。其结构特点如下:光源系统:光源系统是基础部分,通常采用白炽灯或氙灯作为光源,并...
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