武汉颐光科技有限公司
武汉颐光科技有限公司(WuhanEopticsTechnologyCo.,Ltd.)是国内专业从事椭偏仪以及光学纳米测量设备研发、制造与销售的高新技术企业,公司由多位具有二十多年偏振光学测量经验的专家联合创办,与华中科技大学紧密合作,是国内椭偏光学仪器领域颇具优势的技术团队。公司注册于武汉东湖国家自主创新示范区,立足光谷,面向全球,为科研和工业用户提供仪器、软件、服务等综合解决方案。产品广泛应用于集成电路、半导体、光伏太阳能、平板显示、LED照明、存储、生物、医药、化学、电化学、光学镀膜、光刻材...
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技术资讯

  • 提升国产膜厚仪测量精度的技巧

    在现代制造和材料科学领域,膜厚测量起着至关重要的作用。无论是在半导体生产、光学涂层,还是其他工业应用中,国产膜厚仪的测量精度直接关系到产品的质量和性能。然而,测量过程中不可避免地会产生误差。本文将探讨如何判断和减少这些测量误差,以提高膜厚仪的测量精度。一、测量误差的来源1.仪器本身的误差:精度与其设计、制造工艺、校准方法等密切相关。不同品牌和型号,其误差范围也各有不同,用户在选购时应考虑其校准标准和测量范围。2.环境因素:温度、湿度、气压等环境条件可能会影响测量结果。高温或低...

    2026

    1-16

  • 了解膜厚传感器的工作原理

    膜厚传感器是非接触/接触式测量物体表面薄膜、镀层、涂层厚度的核心传感元件,广泛用于实验室材料表征、半导体晶圆镀膜、五金电镀检测、玻璃涂层、电池极片涂层、精密零件镀层检测等场景,是各类实验室检测仪器的核心配套传感部件,精度从纳米级到毫米级,不同原理适配不同检测需求。膜厚传感器的工作原理多种多样,主要取决于其使用的技术类型,包括但不限于以下几种:光学干涉原理:当一束光波照射到薄膜表面时,会在薄膜表面和底部之间形成多次反射和透射,产生干涉现象。通过测量反射和透射光波的相位差,可以计...

    2025

    12-29

  • 红外干涉测厚仪的工作原理与应用

    红外干涉测厚仪是一种高精度的测量仪器,广泛应用于材料科学、半导体制造、光学薄膜测量等领域。它利用干涉原理进行非接触式测量,具有测量精度高、速度快等优点。1.基本原理工作原理基于干涉效应。当两束相干光相遇时,如果它们的相位存在差异,就会产生干涉图样。在测厚过程中,红外光束经过待测材料的反射和透射,会产生干涉现象,通过分析干涉条纹的变化,可以精确计算出材料的厚度。2.结构组成基本结构通常包括以下几个部分:2.1光源光源是重要组成部分,通常使用激光或LED发出的红外光。红外光具有波...

    2025

    12-24

  • 如何使用膜厚测试仪进行精确膜层厚度测量

    膜厚测试仪是一种用于测量涂层或薄膜厚度的精密仪器,广泛应用于电子、汽车、航空、材料科学等行业。膜层的厚度对于产品的性能、耐用性、外观等方面都有重要影响,因此,成为了生产过程中的重要设备。正确使用不仅能提高测量的精度,还能保证产品质量。膜厚测试仪的使用步骤:1.准备工作检查仪器:确保仪器处于良好的工作状态。检查电池是否有足够电量,确保探头、显示屏、按钮等部件正常。清洁被测表面:在测量前,确保待测物体的表面清洁无油污、灰尘等杂质,因为这些污物可能影响测量结果。选择合适的模式:根据...

    2025

    12-12

  • 光谱椭偏仪的校准与维护

    光谱椭偏仪是一种高精度的表面光学检测仪器,广泛应用于薄膜、材料表征以及表面分析等领域。它通过测量反射光的偏振状态变化来获取样品的光学常数,如折射率和吸收系数。随着仪器的不断使用,椭偏仪的性能可能会受到不同因素的影响,因此定期的校准与维护至关重要。光谱椭偏仪的校准方法多种多样,具体的校准方式取决于设备的型号及厂商要求。以下是几种常见的校准方法:1.光源校准使用的光源可能会随着使用时间的增加而衰减,因此需要定期检查光源的性能。大多数椭偏仪提供光源强度校准功能,校准时通常使用标准的...

    2025

    11-24

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